產(chǎn)品詳情
晶圓探針機(jī) 飛針探測臺(tái)
東京精密Accretech uf60 wafter probin machine
探針臺(tái)是對(duì)晶圓上形成的所有芯片進(jìn)行電氣特性的測試的設(shè)備。使用這臺(tái)設(shè)備可以對(duì)芯片的良品、不良品的進(jìn)行篩選。
Accretech UF系列基于一個(gè)靈活的平臺(tái),具有高精度和高剛性,UF系列的一個(gè)更好的改進(jìn)型,在整個(gè)裝配和線寬越來越小的半導(dǎo)體技術(shù)進(jìn)步過程中,該臺(tái)設(shè)備主要用于晶圓比較薄的工藝。
UF60搭載圖像處理系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化對(duì)齊,裝備標(biāo)準(zhǔn)上下料單元,適合測試分立器件的半自動(dòng)探針臺(tái),是一款適合8英寸晶圓/硅片的多用途設(shè)備。
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