產(chǎn)品詳情
超大規(guī)模集成電路動(dòng)態(tài)老煉與測試
在半導(dǎo)體集成電路國產(chǎn)化、小型化、高集成、高性能要求的趨勢下，半異體行業(yè)引入了大量新材料、新工藝和新的器件結(jié)構(gòu)，導(dǎo)致集成電路更高的缺陷密度。廣電計(jì)量提供超大規(guī)模集成電路動(dòng)態(tài)老煉與測試技術(shù)服務(wù)，協(xié)助客戶保證及提高產(chǎn)品的可靠性和質(zhì)量的一致性。
分析對象
處理器、存儲器、AD/DA、接口芯片等大規(guī)模集成電路，DIP、SOP、BGA、PGA、OFP、PLCC、LCC等各種封裝。
試驗(yàn)項(xiàng)目：
一、超大規(guī)模集成電路動(dòng)態(tài)老煉
通過對大規(guī)模集成電路施加持定測試向量（有效測試向量）.激勵(lì)內(nèi)在缺陷和錯(cuò)誤形成響應(yīng)，并通過電應(yīng)力和熱應(yīng)力的加速，在短時(shí)間內(nèi)讓不良品表現(xiàn)出失效現(xiàn)象，并通過測試手段予以易除，以達(dá)到提高大規(guī)模集成申路使用可靠性的目的。
技術(shù)能力
信號頻率∶100MHZ；
系統(tǒng)分區(qū)∶16區(qū)；
I/O通道數(shù)∶128路；
試驗(yàn)溫度∶-10℃～+125℃
向量編程深度32M
二、超大規(guī)模集成電路測試
超大規(guī)模集成電路測試是確定或評估大規(guī)模集成電路的功能和電性能的過程，是驗(yàn)證設(shè)計(jì)、監(jiān)控生產(chǎn)、保證·質(zhì)量、分析失效以及指導(dǎo)應(yīng)用的重裝手段。特別在集成電路生產(chǎn)后期和使用前期不良率驗(yàn)證過程中，采用適當(dāng)?shù)?測試向量和全自動(dòng)化的測試設(shè)備，可q面快速地識別不良產(chǎn)品，提高產(chǎn)品的交付可靠性。
技術(shù)能力
能進(jìn)行動(dòng)態(tài)功能測試、直流參數(shù)測試、交流參數(shù)測試；
能進(jìn)行常溫測試、低溫測試、高溫測試，溫度范圍∶-55℃～+150℃（土2℃）；
信號頻率∶≥200MHz，可升級；
I/O通道數(shù)∶512路；
廣電計(jì)量檢測集成電路測試、分析能力：
可靠性驗(yàn)證(RA)：
芯片級預(yù)處理(PC)&MSL試驗(yàn)、J-STD-020&JESD22-A113；
高溫存儲試驗(yàn)(HTSL),JESD22-A103；
溫度循環(huán)試驗(yàn)(TC),JESD22-A104；
溫濕度試驗(yàn)(TH/THB),JESD22-A101；
高加速應(yīng)力試驗(yàn)(HTSL/HAST),JESD22-A110；
高溫老化壽命試驗(yàn)(HTOL),JESD22-A108；
靜電測試(ESD)：
人體放電模式測試(HBM),JS001；
元器件充放電模式測試(CDM),JS002；
閂鎖測試(LU),JESD78；
TLP；Surge/EOS/EFT；
失效分析(FA)：
光學(xué)檢查(VI/OM)；
掃描電鏡檢查(FIB/SEM)
微光分析定位(EMMI/InGaAs)；
OBIRCH；
Micro-probe;
廣州廣電計(jì)量檢測股份有限公司（GRGT）始建于1964年，是原信息產(chǎn)業(yè)部電子602計(jì)量站，經(jīng)過50余年的發(fā)展，現(xiàn)已成為一家全國化、綜合性的國有第三方計(jì)量檢測機(jī)構(gòu)。廣電計(jì)量的資質(zhì)能力處于行業(yè)*水平，其中CNAS認(rèn)可3408項(xiàng)，CMA認(rèn)可1990項(xiàng)，CATL認(rèn)可覆蓋55個(gè)類別；在支撐各區(qū)域產(chǎn)業(yè)高質(zhì)量發(fā)展過程中，廣電計(jì)量還獲眾多榮譽(yù)稱號。
廣電計(jì)量打造了一支技術(shù)水平和服務(wù)意識俱佳的服務(wù)隊(duì)伍，現(xiàn)有員工4000多人，其中包括各領(lǐng)域?qū)和技術(shù)帶頭人50多人，博士后、博士30人，碩士380多人。
廣電計(jì)量建有技術(shù)研究院，在新能源汽車、軌道交通、無線通信等領(lǐng)域，先后主持編寫30多項(xiàng)*和地方計(jì)量測試標(biāo)準(zhǔn)及規(guī)程，承擔(dān)50多項(xiàng)國家、省部級等重點(diǎn)科研項(xiàng)目，累計(jì)獲得專利*247項(xiàng)，另獲得軟件著作權(quán)119項(xiàng)，積極推動(dòng)了行業(yè)新技術(shù)的創(chuàng)新和產(chǎn)業(yè)化應(yīng)用。
業(yè)務(wù)聯(lián)系：楊生 15915812479
郵箱：yangqm2@grgtest.com
在半導(dǎo)體集成電路國產(chǎn)化、小型化、高集成、高性能要求的趨勢下，半異體行業(yè)引入了大量新材料、新工藝和新的器件結(jié)構(gòu)，導(dǎo)致集成電路更高的缺陷密度。廣電計(jì)量提供超大規(guī)模集成電路動(dòng)態(tài)老煉與測試技術(shù)服務(wù)，協(xié)助客戶保證及提高產(chǎn)品的可靠性和質(zhì)量的一致性。
分析對象
處理器、存儲器、AD/DA、接口芯片等大規(guī)模集成電路，DIP、SOP、BGA、PGA、OFP、PLCC、LCC等各種封裝。
試驗(yàn)項(xiàng)目：
一、超大規(guī)模集成電路動(dòng)態(tài)老煉
通過對大規(guī)模集成電路施加持定測試向量（有效測試向量）.激勵(lì)內(nèi)在缺陷和錯(cuò)誤形成響應(yīng)，并通過電應(yīng)力和熱應(yīng)力的加速，在短時(shí)間內(nèi)讓不良品表現(xiàn)出失效現(xiàn)象，并通過測試手段予以易除，以達(dá)到提高大規(guī)模集成申路使用可靠性的目的。
技術(shù)能力
信號頻率∶100MHZ；
系統(tǒng)分區(qū)∶16區(qū)；
I/O通道數(shù)∶128路；
試驗(yàn)溫度∶-10℃～+125℃
向量編程深度32M
二、超大規(guī)模集成電路測試
超大規(guī)模集成電路測試是確定或評估大規(guī)模集成電路的功能和電性能的過程，是驗(yàn)證設(shè)計(jì)、監(jiān)控生產(chǎn)、保證·質(zhì)量、分析失效以及指導(dǎo)應(yīng)用的重裝手段。特別在集成電路生產(chǎn)后期和使用前期不良率驗(yàn)證過程中，采用適當(dāng)?shù)?測試向量和全自動(dòng)化的測試設(shè)備，可q面快速地識別不良產(chǎn)品，提高產(chǎn)品的交付可靠性。
技術(shù)能力
能進(jìn)行動(dòng)態(tài)功能測試、直流參數(shù)測試、交流參數(shù)測試；
能進(jìn)行常溫測試、低溫測試、高溫測試，溫度范圍∶-55℃～+150℃（土2℃）；
信號頻率∶≥200MHz，可升級；
I/O通道數(shù)∶512路；
廣電計(jì)量檢測集成電路測試、分析能力：
可靠性驗(yàn)證(RA)：
芯片級預(yù)處理(PC)&MSL試驗(yàn)、J-STD-020&JESD22-A113；
高溫存儲試驗(yàn)(HTSL),JESD22-A103；
溫度循環(huán)試驗(yàn)(TC),JESD22-A104；
溫濕度試驗(yàn)(TH/THB),JESD22-A101；
高加速應(yīng)力試驗(yàn)(HTSL/HAST),JESD22-A110；
高溫老化壽命試驗(yàn)(HTOL),JESD22-A108；
靜電測試(ESD)：
人體放電模式測試(HBM),JS001；
元器件充放電模式測試(CDM),JS002；
閂鎖測試(LU),JESD78；
TLP；Surge/EOS/EFT；
失效分析(FA)：
光學(xué)檢查(VI/OM)；
掃描電鏡檢查(FIB/SEM)
微光分析定位(EMMI/InGaAs)；
OBIRCH；
Micro-probe;
廣州廣電計(jì)量檢測股份有限公司（GRGT）始建于1964年，是原信息產(chǎn)業(yè)部電子602計(jì)量站，經(jīng)過50余年的發(fā)展，現(xiàn)已成為一家全國化、綜合性的國有第三方計(jì)量檢測機(jī)構(gòu)。廣電計(jì)量的資質(zhì)能力處于行業(yè)*水平，其中CNAS認(rèn)可3408項(xiàng)，CMA認(rèn)可1990項(xiàng)，CATL認(rèn)可覆蓋55個(gè)類別；在支撐各區(qū)域產(chǎn)業(yè)高質(zhì)量發(fā)展過程中，廣電計(jì)量還獲眾多榮譽(yù)稱號。
廣電計(jì)量打造了一支技術(shù)水平和服務(wù)意識俱佳的服務(wù)隊(duì)伍，現(xiàn)有員工4000多人，其中包括各領(lǐng)域?qū)和技術(shù)帶頭人50多人，博士后、博士30人，碩士380多人。
廣電計(jì)量建有技術(shù)研究院，在新能源汽車、軌道交通、無線通信等領(lǐng)域，先后主持編寫30多項(xiàng)*和地方計(jì)量測試標(biāo)準(zhǔn)及規(guī)程，承擔(dān)50多項(xiàng)國家、省部級等重點(diǎn)科研項(xiàng)目，累計(jì)獲得專利*247項(xiàng)，另獲得軟件著作權(quán)119項(xiàng)，積極推動(dòng)了行業(yè)新技術(shù)的創(chuàng)新和產(chǎn)業(yè)化應(yīng)用。
業(yè)務(wù)聯(lián)系：楊生 15915812479
郵箱：yangqm2@grgtest.com
