產品詳情
jun用電子元器件篩選(一次篩選、二次篩選)
電子元器件篩選和破壞性物理分析(DPA)是剔除早期失效元器件、及時發(fā)現假冒翻新元器件的有效手段。
電子元器件篩選是通過一系列短期環(huán)境應力加速試驗及測試技術，對整批電子元器件進行全批次非破壞性試驗，挑選出具有特性的合格元器件或判定批次產品是否合格接收，提高產品使用可靠性。
元器件篩選的目的：
剔除早起失效產品。
提高產品批次使用的可靠性。
元器件篩選的特點：
篩選試驗為非破壞性試驗。
不改變元器件固有失效機理和固有可靠性。
對批次產品進行*篩選。
篩選等級由元器件預期工作條件和使用壽命決定。
元器件篩選測試項目：
1.檢查篩選：顯微鏡檢查、紅外線?破壞檢查、X射線?破壞性檢查。
2.密封性篩選：液浸檢漏、氦質譜檢漏、放射性?蹤檢漏、濕度試驗。
3.環(huán)境應力篩選：振動、沖擊、離?加速度、溫度沖擊、綜合應力。
元器件篩選覆蓋范圍：
電子元件：又叫被動元件，顧名思義，沒有源，只是對外界信號的響應，電阻、電容、電感、磁環(huán)、變壓器、熔斷器、晶振、陶振，接插件，線纜等等;
電子器件：又叫有源器件，即內部實際上是有一個“電源”，使用中要加一個外界電源和一個外界信號，可起到對信號放大，處理等功能;包括分立器件，集成電路，機電類器件。
分立器件：可以理解為在單一功能下不可再拆分的電子器件，二/三極管，晶體管，光電二極管，發(fā)光二極管，激光二極管……
集成電路：簡單理解由兩個以上分立器件組成電路，主要包括模擬集成電路，數字集成電路，數?；旌霞呻娐罚?br />
模擬集成電路：運算放大器，模擬乘法器，電源基準，放大器，濾波器，反饋電路，光耦，晶體等。
數字集成電路：處理器，單片機，比較器，TTL，存儲器，FPGA，DSP等。
數?；旌霞呻娐罚篈D/DA等
機電類器件：繼電器，MEMS等
依據各行業(yè)及領域客戶的需求，廣電計量精心打造出涵蓋計量校準、可靠性與環(huán)境試驗、電磁兼容檢測、化學分析、食品農產品檢測、環(huán)保檢測、產品認證、技術咨詢與培訓、質檢行業(yè)信息化系統(tǒng)開發(fā)、測控產品研發(fā)的一站式計量檢測技術服務和產品，貫穿企業(yè)品質管控全過程。
我們的設備能力：
1.老煉需要的設備：
集成電路高溫動態(tài)老煉系統(tǒng)、混合集成電路高溫動態(tài)老煉系統(tǒng)、
電源模塊高溫老煉檢測系統(tǒng)、分立器件綜合老煉檢測系統(tǒng)、
*立器件間歇壽命試驗系統(tǒng)、電容器高溫老煉檢測系統(tǒng)、
繼電器低電平壽命篩選系統(tǒng)、電容高溫反偏老煉系統(tǒng)、
二極管恒流老煉系統(tǒng)。
2.電測試需要的設備：
阻抗分析儀、高阻計、耐壓測試儀、半導體參數分析儀、
高精度圖示儀、可編程電源、電子負載、示波器頻譜分析儀。
3.目檢、外觀檢查需要設備：
光學顯微鏡、金相顯微鏡。
4.理化檢測能力覆蓋：
外觀檢測、內部無損檢測、密封性測試、內部缺陷測試。
覆蓋標準：
GJB128A-97半導體分立器件試驗方法
GJB 360A-96電子及電氣元件試驗方法
GJB 548B-2005微電子器件試驗方法和程序
GJB 7243-2011jun用電子元器件篩選技術要求
GJB 40247A-2006jun用電子元器件破壞性物理分析方法
QJ 10003—2008進口元器件篩選指南
MIL-STD-750D半導體分立器件試驗方法
MIL-STD-883G
廣電計量從1964年開始從事計量檢定工作，是原信息產業(yè)部電子602計量站，歷經五十余年的技術沉淀，持續(xù)變革創(chuàng)新，實現跨越式發(fā)展，成為一家全國性、綜合化、jun民融合的國有第三方計量檢測機構，專業(yè)提供計量校準、產品檢測及認證、分析評價、咨詢培訓、檢測裝備及軟件系統(tǒng)研發(fā)等技術服務和產品，獲得了CNAS、DILAC、CMA、CATL，以及“jun工四證”等政f和?業(yè)眾多權威機構的認可資質。
元器件篩選業(yè)務聯系：張經理：186-2090+8348;
郵箱：zhanghp grgtest.com
電子元器件篩選和破壞性物理分析(DPA)是剔除早期失效元器件、及時發(fā)現假冒翻新元器件的有效手段。
電子元器件篩選是通過一系列短期環(huán)境應力加速試驗及測試技術，對整批電子元器件進行全批次非破壞性試驗，挑選出具有特性的合格元器件或判定批次產品是否合格接收，提高產品使用可靠性。
元器件篩選的目的：
剔除早起失效產品。
提高產品批次使用的可靠性。
元器件篩選的特點：
篩選試驗為非破壞性試驗。
不改變元器件固有失效機理和固有可靠性。
對批次產品進行*篩選。
篩選等級由元器件預期工作條件和使用壽命決定。
元器件篩選測試項目：
1.檢查篩選：顯微鏡檢查、紅外線?破壞檢查、X射線?破壞性檢查。
2.密封性篩選：液浸檢漏、氦質譜檢漏、放射性?蹤檢漏、濕度試驗。
3.環(huán)境應力篩選：振動、沖擊、離?加速度、溫度沖擊、綜合應力。
元器件篩選覆蓋范圍：
電子元件：又叫被動元件，顧名思義，沒有源，只是對外界信號的響應，電阻、電容、電感、磁環(huán)、變壓器、熔斷器、晶振、陶振，接插件，線纜等等;
電子器件：又叫有源器件，即內部實際上是有一個“電源”，使用中要加一個外界電源和一個外界信號，可起到對信號放大，處理等功能;包括分立器件，集成電路，機電類器件。
分立器件：可以理解為在單一功能下不可再拆分的電子器件，二/三極管，晶體管，光電二極管，發(fā)光二極管，激光二極管……
集成電路：簡單理解由兩個以上分立器件組成電路，主要包括模擬集成電路，數字集成電路，數?；旌霞呻娐罚?br />
模擬集成電路：運算放大器，模擬乘法器，電源基準，放大器，濾波器，反饋電路，光耦，晶體等。
數字集成電路：處理器，單片機，比較器，TTL，存儲器，FPGA，DSP等。
數?；旌霞呻娐罚篈D/DA等
機電類器件：繼電器，MEMS等
依據各行業(yè)及領域客戶的需求，廣電計量精心打造出涵蓋計量校準、可靠性與環(huán)境試驗、電磁兼容檢測、化學分析、食品農產品檢測、環(huán)保檢測、產品認證、技術咨詢與培訓、質檢行業(yè)信息化系統(tǒng)開發(fā)、測控產品研發(fā)的一站式計量檢測技術服務和產品，貫穿企業(yè)品質管控全過程。
我們的設備能力：
1.老煉需要的設備：
集成電路高溫動態(tài)老煉系統(tǒng)、混合集成電路高溫動態(tài)老煉系統(tǒng)、
電源模塊高溫老煉檢測系統(tǒng)、分立器件綜合老煉檢測系統(tǒng)、
*立器件間歇壽命試驗系統(tǒng)、電容器高溫老煉檢測系統(tǒng)、
繼電器低電平壽命篩選系統(tǒng)、電容高溫反偏老煉系統(tǒng)、
二極管恒流老煉系統(tǒng)。
2.電測試需要的設備：
阻抗分析儀、高阻計、耐壓測試儀、半導體參數分析儀、
高精度圖示儀、可編程電源、電子負載、示波器頻譜分析儀。
3.目檢、外觀檢查需要設備：
光學顯微鏡、金相顯微鏡。
4.理化檢測能力覆蓋：
外觀檢測、內部無損檢測、密封性測試、內部缺陷測試。
覆蓋標準：
GJB128A-97半導體分立器件試驗方法
GJB 360A-96電子及電氣元件試驗方法
GJB 548B-2005微電子器件試驗方法和程序
GJB 7243-2011jun用電子元器件篩選技術要求
GJB 40247A-2006jun用電子元器件破壞性物理分析方法
QJ 10003—2008進口元器件篩選指南
MIL-STD-750D半導體分立器件試驗方法
MIL-STD-883G
廣電計量從1964年開始從事計量檢定工作，是原信息產業(yè)部電子602計量站，歷經五十余年的技術沉淀，持續(xù)變革創(chuàng)新，實現跨越式發(fā)展，成為一家全國性、綜合化、jun民融合的國有第三方計量檢測機構，專業(yè)提供計量校準、產品檢測及認證、分析評價、咨詢培訓、檢測裝備及軟件系統(tǒng)研發(fā)等技術服務和產品，獲得了CNAS、DILAC、CMA、CATL，以及“jun工四證”等政f和?業(yè)眾多權威機構的認可資質。
元器件篩選業(yè)務聯系：張經理：186-2090+8348;
郵箱：zhanghp grgtest.com
